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标题
授权日
公开（公告）号
申请日
公开（公告）日
当前申请（专利权）人
发明人
操作

有機電界発光表示装置
2012-08-31
JP5074085B2
2007-04-25
2012-11-14
三星モバイルディスプレイ株式會社
宋俊英 | 朴榮宗 | 李璋斗
注释

有機電界発光表示装置
1900-01-01
JP2008209882A
2007-04-25
2008-09-11
三星モバイルディスプレイ株式會社
宋俊英 | 朴榮宗 | 李璋斗
注释

Novel materials for organic electroluminescent devices
1900-01-01
EP1859005A1
2006-03-03
2007-11-28
MERCK PATENT GMBH
STOESSEL, PHILIPP | BREUNING, ESTHER | PARHAM, AMIR
注释

Novel materials for organic electroluminescent devices
2016-04-27
EP1859005B1
2006-03-03
2016-04-27
MERCK PATENT GMBH
STOESSEL, PHILIPP | BREUNING, ESTHER | PARHAM, AMIR
注释

エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥検査装置及びこれらを利用したエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
1900-01-01
JP2008064806A
2006-09-04
2008-03-21
オンセミコンダクター·トレーディング·リミテッド
小川隆司
注释

エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥検査装置及びこれらを利用したエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
2011-10-07
JP4836718B2
2006-09-04
2011-12-14
オンセミコンダクター·トレーディング·リミテッド
小川隆司
注释

일렉트로루미네센스 표시 장치의 결함 검사 방법 및 결함검사 장치 및 이들을 이용한 일렉트로루미네센스 표시장치의 제조 방법
2013-05-21
KR101268237B1
2007-09-03
2013-05-31
산요덴키가부시키가이샤 | 산요 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드
오가와다까시
注释

일렉트로루미네센스 표시 장치의 결함 검사 방법 및 결함검사 장치 및 이들을 이용한 일렉트로루미네센스 표시장치의 제조 방법
1900-01-01
KR1020080021564A
2007-09-03
2008-03-07
산요덴키가부시키가이샤 | 산요 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드
오가와다까시
注释

Method of inspecting defect for electroluminescence display apparatus, defect inspection apparatus, and method of manufacturing electroluminescence display apparatus using defect inspection method and apparatus
2013-07-23
US8493296
2007-09-04
2013-07-23
SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC
OGAWA, TAKASHI
注释