标题

Method of inspecting defect for electroluminescence display apparatus, defect inspection apparatus, and method of manufacturing electroluminescence display apparatus using defect inspection method and apparatus

授权日

2013-07-23

公开（公告）号

US8493296

申请日

2007-09-04

公开（公告）日

2013-07-23

当前申请（专利权）人

SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC

发明人

OGAWA, TAKASHI

简单同族

CN101183079A | CN101183079B | JP2008064806A | JP4836718B2 | KR101268237B1 | KR1020080021564A | TW200842343A | TWI365982B | US20080055211A1 | US8493296

简单同族成员数量

10

简单同族被引用专利总数

108

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权 | 质押 | 权利转移