标题

일렉트로루미네센스 표시 장치의 결함 검사 방법 및 결함검사 장치 및 이들을 이용한 일렉트로루미네센스 표시장치의 제조 방법

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

KR1020080021564A

申请日

2007-09-03

公开（公告）日

2008-03-07

当前申请（专利权）人

산요덴키가부시키가이샤 | 산요 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드

发明人

오가와다까시

简单同族

CN101183079A | CN101183079B | JP2008064806A | JP4836718B2 | KR101268237B1 | KR1020080021564A | TW200842343A | TWI365982B | US20080055211A1 | US8493296

简单同族成员数量

10

简单同族被引用专利总数

108

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权