标题

エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥検査装置及びこれらを利用したエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法

授权日

2011-10-07

公开（公告）号

JP4836718B2

申请日

2006-09-04

公开（公告）日

2011-12-14

当前申请（专利权）人

オンセミコンダクター·トレーディング·リミテッド

发明人

小川 隆司

简单同族

CN101183079A | CN101183079B | JP2008064806A | JP4836718B2 | KR101268237B1 | KR1020080021564A | TW200842343A | TWI365982B | US20080055211A1 | US8493296

简单同族成员数量

10

简单同族被引用专利总数

108

诉讼案件数

0

法律状态/事件

未缴年费 | 权利转移