标题
エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥検査装置及びこれらを利用したエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
  • 授权日：2011-10-07
  • 公开(公告)号：JP4836718B2
  • 申请日：2006-09-04
  • 公开(公告)日：2011-12-14
  • 当前申请(专利权)人：オンセミコンダクター·トレーディング·リミテッド
  • 发明人：小川 隆司
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Temperature sensing catheter
  • 授权日：2004-03-30
  • 公开(公告)号：US6712771
  • 申请日：2001-06-15
  • 公开(公告)日：2004-03-30
  • 当前申请(专利权)人：ACCUMED SYSTEMS, INC.
  • 发明人：HADDOCK, THOMAS F. | O'NEILL, WILLIAM W.
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Liquid crystal display and fabricating method thereof
  • 授权日：2011-02-15
  • 公开(公告)号：US7889304
  • 申请日：2010-05-21
  • 公开(公告)日：2011-02-15
  • 当前申请(专利权)人：LG DISPLAY CO., LTD.
  • 发明人：AHN, BYUNG CHUL | YOO, SOON SUNG | KWON, OH NAM | CHANG, YOUN GYOUNG | CHO, HEUNG LYUL | NAM, SEUNG HEE
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标题
Liquid crystal display and fabricating method thereof
  • 授权日：1900-01-01
  • 公开(公告)号：US20100225869A1
  • 申请日：2010-05-21
  • 公开(公告)日：2010-09-09
  • 当前申请(专利权)人：LG DISPLAY CO., LTD.
  • 发明人：AHN, BYUNG CHUL | YOO, SOON SUNG | KWON, OH NAM | CHANG, YOUN GYOUNG | CHO, HEUNG LYUL | NAM, SEUNG HEE
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标题
Temperature sensing catheter
  • 授权日：1900-01-01
  • 公开(公告)号：US20010053882A1
  • 申请日：2001-06-15
  • 公开(公告)日：2001-12-20
  • 当前申请(专利权)人：ACCUMED SYSTEMS, INC.
  • 发明人：HADDOCK, THOMAS F. | O'NEILL, WILLIAM W.
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标题
Temperature sensing catheter
  • 授权日：1900-01-01
  • 公开(公告)号：EP1294275A4
  • 申请日：2001-06-18
  • 公开(公告)日：2003-08-20
  • 当前申请(专利权)人：HADDOCK, THOMAS F.
  • 发明人：HADDOCK, THOMAS, F. | O'NEILL, WILLIAM, W.
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标题
Temperature sensing catheter
  • 授权日：1900-01-01
  • 公开(公告)号：EP1294275A2
  • 申请日：2001-06-18
  • 公开(公告)日：2003-03-26
  • 当前申请(专利权)人：HADDOCK, THOMAS F.
  • 发明人：HADDOCK, THOMAS, F. | O'NEILL, WILLIAM, W.
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Method of inspecting defect for electroluminescence display apparatus, defect inspection apparatus, and method of manufacturing electroluminescence display apparatus using defect inspection method and apparatus
  • 授权日：2013-07-23
  • 公开(公告)号：US8493296
  • 申请日：2007-09-04
  • 公开(公告)日：2013-07-23
  • 当前申请(专利权)人：SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC
  • 发明人：OGAWA, TAKASHI
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标题
Method of inspecting defect for electroluminescence display apparatus, defect inspection apparatus, and method of manufacturing electroluminescence display apparatus using defect inspection method and apparatus
  • 授权日：1900-01-01
  • 公开(公告)号：US20080055211A1
  • 申请日：2007-09-04
  • 公开(公告)日：2008-03-06
  • 当前申请(专利权)人：SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC
  • 发明人：OGAWA, TAKASHI
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