标题：
Method of inspecting defect for electroluminescence display apparatus, defect inspection apparatus, and method of manufacturing electroluminescence display apparatus using defect inspection method and apparatus
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
US20080055211A1
申请日：
2007-09-04
公开(公告)日：
2008-03-06
当前申请(专利权)人：
SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC
发明人：
OGAWA, TAKASHI
简单同族：
CN101183079A | CN101183079B | JP2008064806A | JP4836718B2 | KR101268237B1 | KR1020080021564A | TW200842343A | TWI365982B | US20080055211A1 | US8493296
简单同族成员数量：
10
简单同族被引用专利总数：
108
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 质押 | 权利转移