超音波検査装置および超音波プローブ

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超音波検査装置および超音波プローブ
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2019192979A
申请日

2018-04-19
公开（公告）日

2019-10-31
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

竹崎泰一 | 長谷川浩章 | 町田俊太郎 | 今井亮 | 田中智彦
简单同族

EP3557244A1 | JP2019192979A | US20190321000A1
简单同族成员数量

3
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

公开