열조절에 의한 발한 검사기

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열조절에 의한 발한 검사기
授权日

2006-06-02
公开（公告）号

KR100588306B1
申请日

2005-04-08
公开（公告）日

2006-06-09
当前申请（专利权）人

인하대학교 산학협력단 | (주) 엑스메드론
发明人

KIM CHANG HWAN
简单同族

JP2008534214A | KR100588306B1 | US20080275310A1 | WO2006107177A1
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

15
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移