标题：
검사 방법, 반도체 장치 및 표시 장치
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
KR1020040034563A
申请日：
2002-08-02
公开(公告)日：
2004-04-28
当前申请(专利权)人：
소니 주식회사
发明人：
오리이토시히코 | 아키모토오사무 | 아베히토시 | 안도나오키
简单同族：
CN1232937C | CN1479911A | EP1414005A1 | EP1414005A4 | JP2003043945A | JP2003043945A5 | JP3707404B2 | KR100839808B1 | KR1020040034563A | US20040032278A1 | US20050200377A1 | US7009418 | US7123044 | WO2003019504A1
简单同族成员数量：
14
简单同族被引用专利总数：
105
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费