标题：
金属標識物質を用いた被検物質の測定方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2013101092A
申请日：
2011-11-07
公开(公告)日：
2013-05-23
当前申请(专利权)人：
高村 禅 | 近江 みゆき | 株式会社マイクロエミッション
发明人：
高村 禅 | 浮田 芳昭 | グエン ホアン トン | 近江 みゆき | 山本 保
简单同族：
JP2013101092A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回