标题：
質量分析を行うべき試料をスクリーニングする方法
授权日：
2019-12-27
公开(公告)号：
JP6634653B2
申请日：
2018-05-29
公开(公告)日：
2020-01-22
当前申请(专利权)人：
株式会社森永生科学研究所
发明人：
小路 正博 | 本庄 勉 | 岡田 英樹
简单同族：
JP2018151405A | JP6634653B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权