标题：
c-kit/SCF/pAKTの状態を測定するための方法及び定量アッセイ
授权日：
2008-10-24
公开(公告)号：
JP4204974B2
申请日：
2002-08-21
公开(公告)日：
2009-01-07
当前申请(专利权)人：
ベンタナ·メディカル·システムズ·インコーポレーテッド
发明人：
バッカス、 サラ エス.
简单同族：
AT530635T | AU2007201809A1 | AU2007201809B2 | AU2010241288A1 | AU2010241288B2 | CA2457799A1 | CA2457799C | EP1427810A2 | EP1427810A4 | EP1427810B1 | EP1427810B9 | EP2277991A1 | ES2376422T3 | JP2005527781A | JP4204974B2 | US20030045451A1 | US20080182276A1 | US7419777 | US9625446 | WO2003016867A2 | WO2003016867A3
简单同族成员数量：
21
简单同族被引用专利总数：
72
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权