标题：
親和性検定方法による分析試料検出用の基質をコーティングするための新規な装置および方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2008539399A
申请日：
2006-04-22
公开(公告)日：
2008-11-13
当前申请(专利权)人：
バイエル·テクノロジー·サービシズ·ゲゼルシヤフト·ミツト·ベシユレンクテル·ハフツング
发明人：
シク,エジンハルト | ウテインガー,ドミニク | カロンダー,クラウデイオ
简单同族：
AU2006239534A1 | AU2006239534B2 | CA2605750A1 | CN101208599A | CN101208599B | DK1877773T3 | EP1877773A1 | EP1877773B1 | ES2525324T3 | JP2008539399A | JP2008539399A5 | JP5002584B2 | US20090311773A1 | US9050615 | WO2006114249A1
简单同族成员数量：
15
简单同族被引用专利总数：
14
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费 | 权利转移