标题：
测量电离辐射的曝射剂量的方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
CN101184998A
申请日：
2006-02-24
公开(公告)日：
2008-05-21
当前申请(专利权)人：
国立大学法人广岛大学 | 智再如股份有限公司
发明人：
达家雅明
简单同族：
AU2006216188A1 | CN101184998A | EP1857819A1 | EP1857819A4 | RU2007135360A | US20080283763A1 | WO2006090836A1
简单同族成员数量：
7
简单同族被引用专利总数：
6
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回