标题：
光学的検査方法及び光学的検査装置、並びに液晶表示装置の製造方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2004325788A
申请日：
2003-04-24
公开(公告)日：
2004-11-18
当前申请(专利权)人：
ソニー株式会社
发明人：
中野 政剛 | 大関 学 | 掛林 博史 | 和田 智浩 | 太田 智
简单同族：
JP2004325788A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
60
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回