标题：
超音波探触子の製造方法、超音波探触子、及び超音波診断装置
授权日：
2017-08-10
公开(公告)号：
JP6189033B2
申请日：
2012-12-14
公开(公告)日：
2017-08-30
当前申请(专利权)人：
株式会社日立製作所
发明人：
町田 俊太郎 | 佐光 暁史 | 竹崎 泰一 | 吉村 保廣 | 永田 達也 | 山下 尚昭 | 田中 宏樹
简单同族：
JP2014120874A | JP6189033B2 | US20150323657A1 | US9964635 | WO2014091951A1
简单同族成员数量：
5
简单同族被引用专利总数：
14
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移