标题：
全視野3次元表面測定
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2016518156A
申请日：
2014-03-11
公开(公告)日：
2016-06-23
当前申请(专利权)人：
アパーチャー ダイアグノスティックス リミテッド
发明人：
ゼイエン、ロバート
简单同族：
AU2014251322A1 | AU2014251322B2 | BR112015022344A2 | CA2904861A1 | CN105377109A | EP2967289A1 | EP2967289A4 | EP2967289B1 | EP3434171A1 | IL241196D0 | JP2016518156A | KR1020150132166A | US10575719 | US20140276093A1 | US20160367123A1 | US20200187764A1 | US9456752 | WO2014168705A1
简单同族成员数量：
18
简单同族被引用专利总数：
13
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回