标题：
3次元形状計測装置、診断システム及び3次元形状計測方法
授权日：
2020-02-07
公开(公告)号：
JP6656611B2
申请日：
2015-07-24
公开(公告)日：
2020-03-04
当前申请(专利权)人：
公立大学法人広島市立大学 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 国立大学法人 鹿児島大学 | 国立大学法人広島大学
发明人：
古川 亮 | 佐川 立昌 | 川崎 洋 | マルコ ヴィゼンティーニ スカルツァネッラ | 吉田 成人
简单同族：
JP2017023562A | JP6656611B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权