标题：
検査方法、半導体装置、及び表示装置
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2003043945A5
申请日：
2001-08-03
公开(公告)日：
2004-10-07
当前申请(专利权)人：
ソニー株式会社
发明人：
折井 俊彦 | 秋元 修 | 安部 仁 | 安藤 直樹
简单同族：
CN1232937C | CN1479911A | EP1414005A1 | EP1414005A4 | JP2003043945A | JP2003043945A5 | JP3707404B2 | KR100839808B1 | KR1020040034563A | US20040032278A1 | US20050200377A1 | US7009418 | US7123044 | WO2003019504A1
简单同族成员数量：
14
简单同族被引用专利总数：
105
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费