标题:
内視鏡装置及び内視鏡の偏光素子の劣化検出方法
公开(公告)号:
JPWO2014057855A1
当前申请(专利权)人:
オリンパスメディカルシステムズ株式会社
发明人:
有吉 大記 | 後野 和弘 | 山崎 健二 | 町田 亮
简单同族:
CN103997945A | CN103997945B | EP2767216A1 | EP2767216A4 | JP5526300B1 | JPWO2014057855A1 | US20140204188A1 | US8937652 | WO2014057855A1