标题：
組織の特徴を測定するための蛍光、反射率および光散乱による分光学的システムおよび方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2004518124A
申请日：
2002-01-18
公开(公告)日：
2004-06-17
当前申请(专利权)人：
マサチユセツツ·インスチチユート·オブ·テクノロジイ
发明人：
ジヨーガクーデイ,アイリーン | フエルド,マイケル·エス | ツアング,キングオ | ミユーラー,マルクス·ジー
简单同族：
AU2002253891A1 | CA2431769A1 | EP1352231A2 | EP1942335A1 | JP2004518124A | JP2004518124A5 | US20020143243A1 | US20030013973A1 | US20050288593A1 | US6697652 | US6912412 | US8380268 | WO2002057757A2 | WO2002057757A3
简单同族成员数量：
14
简单同族被引用专利总数：
404
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
实质审查