标题：
パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置
授权日：
2008-07-25
公开(公告)号：
JP4158848B2
申请日：
2001-12-28
公开(公告)日：
2008-10-01
当前申请(专利权)人：
ビオイ ハイディス テクノロジー カンパニー リミテッド
发明人：
崔 教 雲 | 金 永 求 | 李 建 昊
简单同族：
JP2002303845A | JP4158848B2 | KR100494685B1 | KR1020020059071A | TWI287653B | US20020085169A1 | US6999153
简单同族成员数量：
7
简单同族被引用专利总数：
40
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移