标题：
초음파 영상에서 스페클 패턴의 변화를 추정하여 매질의탄성특성을 측정하는 방법
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
KR1020040004842A
申请日：
2002-07-05
公开(公告)日：
2004-01-16
当前申请(专利权)人：
삼성메디슨 주식회사
发明人：
정목근 | 권성재
简单同族：
JP2004033765A | JP3857256B2 | KR100483631B1 | KR1020040004842A | US20040006270A1 | US6913574
简单同族成员数量：
6
简单同族被引用专利总数：
18
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权