标题：
Ultrasonic probe attachment, ultrasonic probe, ultrasonic inspection apparatus and ultrasonic inspection method
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
US20170290564A1
申请日：
2015-10-02
公开(公告)日：
2017-10-12
当前申请(专利权)人：
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：
IIJIMA, KAZUO
简单同族：
EP3202326A1 | EP3202326A4 | EP3202326B1 | JP2016073352A | JP6347713B2 | KR1020160040126A | US20170290564A1
简单同族成员数量：
7
简单同族被引用专利总数：
2
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
实质审查 | 权利转移