标题：
超音波診断装置、超音波断層像の解析装置、及び超音波断層像の解析方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2004154475A
申请日：
2002-11-08
公开(公告)日：
2004-06-03
当前申请(专利权)人：
株式会社東芝
发明人：
神山 直久
简单同族：
JP2004154475A | JP4253494B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
16
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费