标题：
断層測定装置
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2006192059A
申请日：
2005-01-13
公开(公告)日：
2006-07-27
当前申请(专利权)人：
フジノン株式会社
发明人：
田中 俊積
简单同族：
JP2006192059A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
12
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回 | 权利转移