标题：
超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2014188149A
申请日：
2013-03-27
公开(公告)日：
2014-10-06
当前申请(专利权)人：
セイコーエプソン株式会社
发明人：
日向 崇
简单同族：
JP2014188149A | JP2014188149A5 | US20140296713A1
简单同族成员数量：
3
简单同族被引用专利总数：
3
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回