标题：
超音波探触子及び超音波探触子の調整方法並びに超音波診断装置
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JPWO2016143133A1
申请日：
2015-03-12
公开(公告)日：
2017-04-27
当前申请(专利权)人：
株式会社日立製作所
发明人：
杉山 由一 | 五十嵐 豊 | 今川 健吾 | 勝部 勇作
简单同族：
JP6243084B2 | JPWO2016143133A1 | WO2016143133A1
简单同族成员数量：
3
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权