标题：
変位計測方法及び装置、並びに、超音波診断装置
授权日：
2014-12-19
公开(公告)号：
JP5665040B2
申请日：
2010-06-25
公开(公告)日：
2015-02-04
当前申请(专利权)人：
学校法人上智学院
发明人：
炭 親良
简单同族：
JP2011078744A | JP2015042344A | JP5665040B2 | JP5979682B2 | US20110172538A1 | US20150112185A1 | US20170311930A1 | US8956297 | US9993228
简单同族成员数量：
9
简单同族被引用专利总数：
50
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权