标题：
超音波診断装置、および超音波断層画像の生成方法、並びに超音波断層画像の生成プログラム
授权日：
2011-03-25
公开(公告)号：
JP4709584B2
申请日：
2005-06-07
公开(公告)日：
2011-06-22
当前申请(专利权)人：
富士フイルム株式会社
发明人：
佐藤 良彰
简单同族：
EP1675064A1 | EP1675064B1 | JP2006198387A | JP4709584B2 | US20060140465A1 | US7824334
简单同族成员数量：
6
简单同族被引用专利总数：
5
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费 | 权利转移