标题：
超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2014180490A
申请日：
2013-03-21
公开(公告)日：
2014-09-29
当前申请(专利权)人：
セイコーエプソン株式会社
发明人：
増田 博之 | 新垣 匠
简单同族：
JP2014180490A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回