标题：
超音波探触子とその製造方法ならびに超音波診断装置
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2017148258A
申请日：
2016-02-25
公开(公告)日：
2017-08-31
当前申请(专利权)人：
株式会社日立製作所
发明人：
町田 俊太郎
简单同族：
JP2017148258A | JP6543584B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
3
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移