标题：
超音波画像検査方法、超音波画像検査装置
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2006078408A
申请日：
2004-09-10
公开(公告)日：
2006-03-23
当前申请(专利权)人：
国立大学法人豊橋技術科学大学 | 本多電子株式会社
发明人：
穂積 直裕 | 長尾 雅行 | 小林 和人
简单同族：
JP2006078408A | JP4654335B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
19
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权