标题：
超音波探触子、超音波診断装置、半導体センサ
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2018114042A
申请日：
2017-01-17
公开(公告)日：
2018-07-26
当前申请(专利权)人：
株式会社日立製作所
发明人：
吉村 保廣 | 佐光 暁史 | 山下 尚昭 | 永田 達也
简单同族：
JP2018114042A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
实质审查