标题：
検査装置
授权日：
2005-12-02
公开(公告)号：
JP3744901B2
申请日：
2003-01-07
公开(公告)日：
2006-02-15
当前申请(专利权)人：
株式会社日立製作所 | 株式会社日立メディコ
发明人：
越智 久晃 | 東 隆 | 梅村 晋一郎 | 谷口 陽 | 板垣 博幸
简单同族：
JP2004209066A | JP3744901B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
8
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费