标题：
超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波画像の処理方法
授权日：
2017-03-24
公开(公告)号：
JP6111870B2
申请日：
2013-05-31
公开(公告)日：
2017-04-12
当前申请(专利权)人：
セイコーエプソン株式会社
发明人：
長谷川 英之 | 金井 浩 | 鶴野 次郎
简单同族：
JP2014233415A | JP2014233415A5 | JP6111870B2 | US20140352437A1 | US9465009
简单同族成员数量：
5
简单同族被引用专利总数：
4
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权