标题：
超音波画像診断装置とその探触子変位算出方法
授权日：
2016-08-05
公开(公告)号：
JP5980526B2
申请日：
2012-02-29
公开(公告)日：
2016-08-31
当前申请(专利权)人：
株式会社日立製作所
发明人：
馬場 博隆
简单同族：
JP2013176499A | JP5980526B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移