标题：
超音波探触子、該超音波探触子を備えた検査装置
授权日：
2014-05-23
公开(公告)号：
JP5546111B2
申请日：
2008-06-04
公开(公告)日：
2014-07-09
当前申请(专利权)人：
キヤノン株式会社
发明人：
中川 克己 | 長永 兼一 | 福谷 和彦 | 浅尾 恭史
简单同族：
JP2009031268A | JP5546111B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
84
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权