标题：
超音波検査方法、及び超音波検査装置
授权日：
2011-01-07
公开(公告)号：
JP4654352B2
申请日：
2005-03-30
公开(公告)日：
2011-03-16
当前申请(专利权)人：
国立大学法人豊橋技術科学大学 | 本多電子株式会社
发明人：
穂積 直裕 | 小林 和人
简单同族：
JP2006271765A | JP4654352B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
16
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费