标题：
超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法
授权日：
2018-09-21
公开(公告)号：
JP6402590B2
申请日：
2014-10-31
公开(公告)日：
2018-10-10
当前申请(专利权)人：
セイコーエプソン株式会社
发明人：
新垣 匠
简单同族：
JP2016086947A | JP6402590B2 | US20160120514A1
简单同族成员数量：
3
简单同族被引用专利总数：
1
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权