标题：
超音波検査装置および検査方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2011104036A
申请日：
2009-11-16
公开(公告)日：
2011-06-02
当前申请(专利权)人：
学校法人千葉工業大学
发明人：
大野 正弘
简单同族：
JP2011104036A | JP5472851B2
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权