标题：
光超音波断層画像測定方法及び装置
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2005224399A
申请日：
2004-02-13
公开(公告)日：
2005-08-25
当前申请(专利权)人：
株式会社クリニカル·サプライ | 佐藤 学 | 渡部 裕輝 | 田村 安孝
发明人：
佐藤 学 | 渡部 裕輝 | 田村 安孝 | 古川 博康 | 権 貴龍
简单同族：
JP2005224399A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
63
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回