标题：
망막 검사 방법 및 장치
授权日：
2020-05-25
公开(公告)号：
KR102117005B1
申请日：
2018-06-04
公开(公告)日：
2020-06-01
当前申请(专利权)人：
한국표준과학연구원
发明人：
이상원 | 이태걸 | 강희성
简单同族：
KR1020190138169A | KR102117005B1
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权