标题：
열조절에 의한 발한 검사기
授权日：
2006-06-02
公开(公告)号：
KR100588306B1
申请日：
2005-04-08
公开(公告)日：
2006-06-09
当前申请(专利权)人：
인하대학교 산학협력단 | (주) 엑스메드론
发明人：
KIM CHANG HWAN
简单同族：
JP2008534214A | KR100588306B1 | US20080275310A1 | WO2006107177A1
简单同族成员数量：
4
简单同族被引用专利总数：
15
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移