标题：
발명의 명칭 이식형 파트를 갖는 EEG 모니터에서의 전극 및 누설 전류 테스팅
授权日：
2017-04-25
公开(公告)号：
KR101732297B1
申请日：
2013-02-27
公开(公告)日：
2017-05-02
当前申请(专利权)人：
티앤더블유 엔지니어링 에이/에스
发明人：
킬스가드소렌 | 젠센모르텐홈
简单同族：
AU2013380260A1 | AU2013380260B2 | CA2902010A1 | CA2902010C | CN105050496A | CN105050496B | DK2961314T3 | EP2961314A1 | EP2961314B1 | JP2016509515A | JP6133443B2 | KR101732297B1 | KR1020150123869A | SG11201506777PA | US10441223 | US20150351654A1 | WO2014131438A1
简单同族成员数量：
17
简单同族被引用专利总数：
4
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权