标题：
Electrode and leakage current testing in an eeg monitor with an implantable part
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
US20150351654A1
申请日：
2015-08-20
公开(公告)日：
2015-12-10
当前申请(专利权)人：
T&W ENGINEERING A/S
发明人：
KILSGAARD, SOREN | JENSEN, MORTEN HOLM
简单同族：
AU2013380260A1 | AU2013380260B2 | CA2902010A1 | CA2902010C | CN105050496A | CN105050496B | DK2961314T3 | EP2961314A1 | EP2961314B1 | JP2016509515A | JP6133443B2 | KR101732297B1 | KR1020150123869A | SG11201506777PA | US10441223 | US20150351654A1 | WO2014131438A1
简单同族成员数量：
17
简单同族被引用专利总数：
4
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移