标题：
Test apparatus and control method thereof
授权日：
2019-03-12
公开(公告)号：
US10228383
申请日：
2016-11-25
公开(公告)日：
2019-03-12
当前申请(专利权)人：
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：
YEO, YEONG BAE | PARK, SIL
简单同族：
KR1020170093336A | US10228383 | US20170227407A1
简单同族成员数量：
3
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移