标题：
Cold reflex tester
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
US20100241025A1
申请日：
2009-07-14
公开(公告)日：
2010-09-23
当前申请(专利权)人：
KOREA ELECTRO TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：
BAE, YOUNG MIN | KANG, UK | KIM, SERGEY | KIM, GUANG HOON | LEE, DAE SIC
简单同族：
DE102009035532A1 | DE102009035532B4 | JP2010221001A | JP5005738B2 | KR100977461B1 | US20100241025A1
简单同族成员数量：
6
简单同族被引用专利总数：
7
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回 | 权利转移