标题：
In situ tumor temperature profile measuring probe and method
授权日：
2005-07-12
公开(公告)号：
US6916290
申请日：
2002-03-05
公开(公告)日：
2005-07-12
当前申请(专利权)人：
GENERAL ELECTRIC COMPANY
发明人：
HEDENGREN, KRISTINA HELENA VALBORG | KORNRUMPF, WILLIAM PAUL | MILLER, MARK LLOYD | UZGIRIS, EGIDIJUS EDWARD
简单同族：
US20020099304A1 | US6419635 | US6916290
简单同族成员数量：
3
简单同族被引用专利总数：
44
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费