标题：
Device and method for measuring scattering absorber
授权日：
2016-04-20
公开(公告)号：
EP1653218B1
申请日：
2004-07-23
公开(公告)日：
2016-04-20
当前申请(专利权)人：
HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：
YAMANAKA, TAKESHI, C/O HAMAMATSU PHOTONICS K.K. | UEDA, YUKIO, C/O HAMAMATSU PHOTONICS K.K. | YAMASHITA, YUTAKA, C/O HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
简单同族：
EP1653218A1 | EP1653218A4 | EP1653218B1 | JP2005049238A | JP4167144B2 | US20070038116A1 | WO2005010504A1
简单同族成员数量：
7
简单同族被引用专利总数：
23
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权